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掃描電鏡

發布日期:2021-07-27 11:52瀏覽次數:

概況

掃描電子顯微鏡的英文全稱為Scanning Electron Microscope,簡稱掃描電鏡或者SEM。掃描電鏡是一種用于放大并觀察物體表面結構的電子光學儀器。掃描電鏡由鏡筒、電子信號的收集和處理系統、電子信號的顯示和記錄系統、真空系統和電源系統等組成,具有放大倍數可調范圍寬、圖像分辨率高和景深大等特點。

 

軟件特性

1、臺式電鏡,體形小巧,占用空間??;

2、強大的軟件功能,單窗口操作界面讓用戶操作方便簡單;

3、軟件實現檢測圖形實時存儲;

4、產品結構設計簡潔,易于維護及保養;

5、自動平臺采用中心定位模式,迅速定位待測樣品;

6、高低壓真空設計,可調試電壓,為不同樣品提供更合適的檢測環境

 

產品說明:

(1 )最大放大倍率是6萬倍;

(2 )采用二次電子和背散射電子兩種探測器;

(3)加速電壓有1KV、5KV、10KV、15KV、20KV、30KV可選,圖像分辨率高;

(4 )通過選配EDS可進行元素成份分析;

(5 )選配冷卻臺可在無前置處理的情況下對水分進行采樣分析;

(6 )高/低真空的配置可縮短前處理過程;

(7 )選配CCD攝像頭可實時觀察載物臺內部;

 


 

規格

產品應用:

由于掃描電鏡具有觀察納米材料、材料端口分析、直接觀察原始表面等特點和功能,所以越來越多受到科研人員的重視,用途日益廣泛。

現在掃描電鏡已廣泛用于材料科學、冶金、生物學、醫學、半導體材料與器件、地質勘探、病蟲害的防治、災害鑒定、寶石鑒定、工業生產中的產品質量鑒定及生產工藝控制等。

電鏡實驗圖片

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